ENVISON

AxCIS 3600dpi High-Resolution CIS

시료 표면의 정반사를 효과적으로 제어하여 웨이퍼와 같은 고반사 유광 표면 검사에 최적화된 균일한 이미지 품질을 구현합니다.

13mm의 좁은 공간에서 원하는 FOV를

한번에 검사 가능한 CIS 솔루션

CIS는 이미지센서, 렌즈, 조명이 컴팩트하게 결합된 제품으로 좁은 공간에 비전 시스템을 간편하게 구축 할 수 있습니다.
앤비젼 CIS을 사용하게 되면 약 500mm의 Working Distance를 13.9mm로 줄일 수 있습니다.

표면 반사를 제어한 균일한 이미지 제공

동축 조명 기반으로 웨이퍼와 같은 고반사 유광 표면 검사에 최적화 되어 미세 스크래치, 핀홀, 오염물 등
다양한 표면 결함을 높은 감도로 검출합니다.

다양한 해상도의 CIS솔루션 라인업

앤비젼의 이미징 노하우를 통해 고속 및 압도적인 성능의 이미지 품질을 제공합니다.