Logger Script
CIS 1.3M PS SWIR, CXP-3
SWIR 파장을 이용한 고속&고해상도 카메라

앤비젼이 제안하는 SWIR Area Camera는 Sony IMX990 (SWIR)를 탑재하여,
SWIR 파장대인 400 ~ 1700 nm 영역대의 검사가 가능한 카메라입니다.

주요 특징

1) 400 ~ 1700 nm 파장대 대응

2) Sony IMX990 센서 사용

3) Pixel Shift를 통한 고속, 고해상도

4) C마운트 렌즈 사용을 통한 사용성 용이

주요 사양

Spectrum SWIR 
Type Area 
Family SWIR Area scan 
Partnumber VCC-SXCXP1SWPS-9 
Resolution 1.3 Megapixel 
Resolution(H*V) 3888 x 3096 @9shot 
Sensor size (Image Circle) 8.3 mm
Frame/Line Rate 135fps @8bits 
Pixel Size 5 μm
Interface CXP-3 / 1Ch 
Spectral Response 400 ~ 1700 nm 
NETD
Sensor type Sony IMX 990 
Operating Temp
Temp. Accuracy
Mount C 
Lens Focal Length
Lens F/#
HFOV
Size 65 x 65 x 95 mm
Mass
Responsivity
Full Well
Dynamic Range
Quantum Efficiency
Maker CIS corp. 

다운로드

구분 파일명 다운로드
카달로그 [2026년] 앤비젼 전제품 카달로그 다운로드
카달로그 [2026년] 앤비젼 반도체 분야 솔루션 소개서 다운로드
데이터시트 [2024년] SWIR 1.3M PS Area scan camera Datasheet 다운로드
데이터시트 [2026년] 앤비젼 SWIR Area Scan Camera Datasheet 다운로드

관련 제품

동영상

HBM 내부 결함 검출 가능! SWIR 이미징 솔루션

HBM처럼 고집적 적층 구조가 복잡해질수록, 비파괴 방식의 내부 검사 기술이 더욱 중요해지고 있습니다.
이번 영상에서는 앤비젼 SWIR 이미징 솔루션 전문가 노윤성 부장과 함께 SWIR 파장 대역을 활용한 투과 검사 기술과 실제 산업 적용 사례를 소개합니다.

이전
다음