
- 단파적외선(SWIR) 스펙트럼 0.9 – 1.7μm 영역
- 콤팩트, 경량, COTS 이미징 렌즈
- 높은 출력을 위한 낮은 f/#
- 검사, 분류, 품질 제어를 포함한 다양한 용도에 적합한 제품

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1) Focal Length
2) Working Distance
3) FOV
| Family | SWIR Lens |
|---|---|
| Partnumber | 83-170 |
| Focal length | 100 mm |
| Image circle | 25.6 mm |
| Sensor Format(Inch) | 4/3" |
| F/# | 2.25 ~ 22 |
| Iris Option | Variable |
| Mount | C |
| MOD | 400 mm |
| Distortion | |
| Magnification range | 0 ~ 0.333 x |
| Magnification | 0.166 x |
| Wavelength | SWIR |
| Type | Fixed focal length |
| Maker | Edmund |
| Resolution |
| 구분 | 파일명 | 다운로드 |
|---|---|---|
| 카달로그 | [2026년] 앤비젼 전제품 카달로그 | ![]() |
| 데이터시트 | SWIR Lens 2.25/100 (C) Datasheet | ![]() |
| 3D 도면 | SWIR Lens 2.25/100 3D Model | ![]() |
| 3D 도면 | SWIR Lens 2.25/100 3D Model (STEP) | ![]() |
"보이지 않는 내부 결함을 어떻게 검출할 것인가?"
HBM처럼 고집적 적층 구조가 복잡해질수록, 비파괴 방식의 내부 검사 기술이 더욱 중요해지고 있습니다.
이번 영상에서는 앤비젼 SWIR 이미징 솔루션 전문가 노윤성 부장과 함께 SWIR 파장 대역을 활용한 투과 검사 기술과 실제 산업 적용 사례를 소개합니다.