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웨이퍼와 같은 불투명 기판 가장자리 여러면을 검사하기 위한 고속 라인 스캔용 이미징 모듈 |
EO-MVO-3W0310-CR175 |
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4680 원통형 전지 내부 360도 검사를 위한 렌즈 |
EO-LENS-INS360-4680 |
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2170 원통형 전지 내부 360도 검사를 위한 렌즈 |
EO-LENS-INS360-2170 |
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고Magnification 렌즈의 NA와 CRA를 고려한 설계로 렌즈 해상력 내에서 MTF 개선이 가능한 앤비젼 동축조명 |
EV-NCM-SP250 / EV-NCM-HR333-R2 / EV-NCM-XND333 / EV-NCM-XND500 |
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라인스캔 방식의 눌림(돌출/패임) 고속 검사 기기 |
EO-AINI-180 |
