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| Family | WWK |
|---|---|
| Partnumber | SWIR-WWK10-110CP-111 |
| Magnification | 1 x |
| Image circle | 18.4 mm |
| FOV | 12.8x12.8 mm |
| Coaxial | Coaxial |
| DOF | ±0.28 mm |
| NA | 0.07143 |
| F/# | 7 |
| Wavelength | 900 ~ 1300 |
| Type | SWIR-telecentric |
| Mount(변경제작가능) | C |
| WD | 110±2 mm |
| Distortion | 0.1 % |
| Telecentricity | 0.15 ° |
| Maker | SZ Vico |
| Length | 152.6 mm |
| 구분 | 파일명 | 다운로드 |
|---|---|---|
| 카달로그 | [2026년] 앤비젼 전제품 카달로그 | ![]() |
| 카달로그 | [2026년] 앤비젼 반도체 분야 솔루션 소개서 | ![]() |
| 데이터시트 | [2026년] SWIR-WWK10-110CP-111 Datasheet | ![]() |
"보이지 않는 내부 결함을 어떻게 검출할 것인가?"
HBM처럼 고집적 적층 구조가 복잡해질수록, 비파괴 방식의 내부 검사 기술이 더욱 중요해지고 있습니다.
이번 영상에서는 앤비젼 SWIR 이미징 솔루션 전문가 노윤성 부장과 함께 SWIR 파장 대역을 활용한 투과 검사 기술과 실제 산업 적용 사례를 소개합니다.