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태양광 패널 검사

2013.09.13

태양광 패널 제조는 유리, 반도체, 금속, 무반사 코팅 등의 다양하고 정교한 에칭 및 본딩 단계들을 포함합니다. 정부, 민간 기업, 소비자 모두 "친환경" 에너지 원을 찾고 있지만 여전히 경제적이지 않기 때문에 태양 전지 제조업체들은 제품 품질 향상 및 비용 절감에 대한 압력을 받고 있습니다. 수율이 매우 중요하며, 광학 검사가 소중한 도구가 될 수 있습니다. 제조업체는 모든 주요 처리 단계 이후에 개별 패널의 100% 검사를 수행하고 있습니다.


태양 전지 제조 공정에서 Teledyne DALSA의 고해상도 고속 Line scan 카메라 및 TDI 카메라를 시각적으로 검사하는 데에 활용할 수 있습니다. 미세한 균열은 전체 패널이 산산조각을 일으킬 수 있고 다른 패널과 장비에 손상을 초래하고 정비 및 수리를 위한 라인의 정리를 필요로 하기 때문에 미세 균열 검사는 매우 중요합니다. 미세한 균열을 가시 광선을 감지하는 것은 어렵거나 불가능하기 때문에 일부 시스템은 이러한 결함을 노출하는 NIR 백라이트를 사용합니다. Piranha HS NIR TDI 카메라의 고해상도(12k), 고속, NIR 감도 특성으로 검사 시스템이 검사 시간을 감소하고 throughput을 향상할 수 있습니다. 또한, 일렉트로일루미넌스를 사용하는 미세 균열 장노출 검사를 위해 고해상도 Area scan 카메라를 사용할 수 있습니다.


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또한, Teledyne DALSA의 광범위한 프레임 그래버 및 비전 프로세서들은 거의 모든 제조사의 카메라에서 데이터 흐름을 활용할 수 있습니다. Teledyne DALSA의 X64 Xcelera 프레임 그래버는 최첨단 성능을 제공하며 비전 프로세서는 검사 시스템의 결정을 가속하기 위해 실시간 이미지 프로세싱을 제공합니다.


Teledyne DALSA 머신 비전 기능 및 도구


고속, 저조도, 고해상도 이미지 캡처

Piranha4와 같은 Line scan 카메라

Piranha HS 시리즈와 같은 고감도 TDI Line scan 카메라

Falcon2Genie 시리즈와 같은 Area scan 카메라

● NIR 이미징을 위한 Piranha HS NIR 카메라와 같은 스펙트럼 확장 카메라 및 deep UV 감도를 위한 커스텀 제품


Xcelera 시리즈와 같은 데이터 수집용 고속 프레임 그래버


다음을 포함하는 강력한 이미지 프로세싱을 위한 Sapera, MIL 등의 소프트웨어:

● 얼라이먼트를 위한 특성 또는 부품 식별 및 위치를 찾기 위한 Pattern matching 도구

● 특성의 실재, 부재, 위치 등을 감지하는 Edge 도구

● 치수 정확도를 확인하기 위한 Measurement 도구

● 특성의 수를 확인하는 Count 도구

● 긁힘, 균열, 변색 등을 검출하는 Surfacelaw 도구

컬러 요소의 수량 및 위치를 확인하는 Color 도구