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카메라

ENFRAME 50M PS

해상도 확장으로 더욱 정밀하고 빠르게 불량을 검출하는 Pixel Shift 기술 적용

카메라 - ENFRAME 50M PS

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주요사양
파트넘버 NF-P0-50M30-20/21-KC
Resolution 15840 x 12008(ps 4 shot)
Max.Line Rate/
Max. Frame Rate
7.5 fps(4 shot)
Pixel Size 4.6 μm
Interface CoaXPress
Color/Mono Mono
Size 72 x 72 x 152.5 mm (Cooling ver), 72 x 72 x 117.4 mm

ENFRAME 50M PS Area scan camera solution은 Pixel Shift 기술을 통해, 15,840 x 12,008(4 shot mode), 23,760 x 18,012(9 shot mode)까지 해상도를 확장할 수 있는 솔루션입니다. (일반 버전 및 Cooling 버전 2타입)

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ENFRAME 50M PS Area scan camera solution은 화질 검사 application에서 기존 제품 대비 더 높은 해상도, Tact time 개선, 구성 간소화로 비용을 절감하고, 고객의 시스템 경쟁력을 강화하는 솔루션입니다.


ENFRAME 50M 카메라에 Pixel shift 기술을 활용하여 190M(15,840 x 12,008 / 4 shot)에서 428M(23,760 x 18,012 / 9 shot)까지 해상도를 확장할 수 있는 솔루션입니다.


앤비젼의 CMOS 안정화 경험과 이미지 품질 개선 노하우를 반영하여, 최고의 영상 품질을 구현하였습니다.

낮은 노이즈, 전 밝기 영역에서 동일하게 제공되는 pixel uniformity, 장노출 사용 가능 특성으로 어떤 환경에서도 높은 품질의 이미지 획득이 가능합니다.


또한, Low grey(저계조) 검출력을 강화하기 위해 Thermal control capability로 특화된 Cooling version 모델을 추가 제공합니다. 이를 통해 저계조 검출력이 중요한 애플리케이션에서 완벽한 이미지 품을 선보입니다.

 

<주요 특징>

  • Advanced Pixel shift technology
  • 최대 428M의 높은 해상도
  • CoaXPress 6 인터페이스 적용(4채널 지원)
  • Low noise
  • Superior linearity
  • Excellent pixel uniformity
  • 300 ms 이상의 Long exposure에서도 우수한 이미지 품질

<앤비젼 Pixel Shift 기술 효과>
<Mono Pixel Shift 1 shot / 4 shot / 9 shot 비교 이미지>

  초고해상도 Area 솔루션 ENFRAME 시리즈

앤비젼이 글로벌 파트너와 함께 공동개발하여 국내 독점공급하는 초고해상도 Area 솔루션 ENFRAME 시리즈에 대해 소개한 영상입니다.

다른 동영상 보기

애플리케이션

  • - FPD Cell/Module inspection
  • - Semiconductor wafer inspection
  • - Semiconductor package inspection
  • - Electronics manufacturing
  • - 3D imaging
  • - General machine vision
  • - Medical Imaging

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